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LABVOLUTION 2021, 04. bis 06. Mai

TESCAN S8000G

Performance in Nanospace

Logo TESCAN S8000G

Produktbeschreibung

Dual-Beam-System / Rasterelektronenmikroskop und Focused-Ion-Beam System

Produkt-Website

Halle 20, Stand A43

Elektronenmikroskope, Dual-Beam Systeme, Röntgen-CT Mikroskope
(Hauptstand)

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